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星载T/R组件加速寿命试验方法

时间:2017年04月01日 信息来源:《空间控制技术与应用》 点击: 【字体:

摘要:T/R组件作为相控阵天线的核心部件,结构复杂、体积小、集成度高,其可靠性直接影响整机寿命.国内星载毫米波T/R组件尚无长期在轨工作经历,缺乏有效的加速寿命试验方法,为支撑星载毫米波相控阵天线可靠性设计及寿命评估,需开展T/R组件加速寿命试验方法研究.本文研究T/R组件原理及失效机理,结合国内外加速寿命试验研究现状,提出T/R组件加速寿命试验流程,分析比较激活能预估验证法、可靠性预计验证法和多应力评估试验法三种不同试验方法的试验流程、试验方法选取原则及试验参数确定等内容,为开展星载毫米波相控阵天线T/R组件加速寿命试验提供指南.

单位:西南电子设备研究所

链接:http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_kjkzjsyyy201603007.aspx

(作者:杨鹏 毛睿杰 杨立 梁平)
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